Unia Europejska
Ikona BIP Ikona poczty Ikona rodo Ikona Grupa JSW Facebook LinkedIn PLEN

Nowe tematy i terminy szkoleń !

Zapraszamy do zapoznania się z ofertą!

Inne aktualności

Nanostruktury dla precyzyjnej metrologii SPM

9.06.2026 r. w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar w Kielcach odbyła się konferencja „Nanostruktury dla precyzyjnej metrologii SPM”, realizowana w ramach programu Polska Metrologia II.

 

Podczas spotkania Katarzyna Więcek, Kierownik Centrum…

 BADANIA BIEGŁOŚCI - Ręczne pobieranie próbek wody w kąpieliskach
„Rodzic w pracy” – wyniki konkursu!!!

Serdecznie dziękujemy dzieciom naszych Pracowników za udział w konkursie plastycznym „Rodzic w pracy” zorganizowanego z okazji Dnia Chemika.

 

Gratulujemy wszystkim uczestnikom za niezwykle kreatywne prace, które pokazały, jak dzieci wyobrażają sobie swoich rodziców…

 Szkolenie - nadzór nad wyposażeniem pomiarowym w laboratorium – automatyczne przyrządy do pomiarów objętości

W dniu 09.06.2026 r. pracownicy Zespołu Pracowni Wzorcowań uczestniczyli w szkoleniu: Nadzór na wyposażeniem pomiarowym w laboratorium – automatyczne przyrządy do pomiarów objętości, zrealizowanym przez firmę Merck.

Udział w szkoleniu był dla naszych pracowników okazją…

 KOLEJNA RUNDA BADAŃ BIEGŁOŚCI ZA NAMI! DZIĘKUJEMY ZA UDZIAŁ!

W dniach 9 i 10 czerwca 2026 r. przeprowadziliśmy dwie kolejne rundy badań biegłości z zakresu pobierania próbek wód powierzchniowych – rzeki/strumienie oraz jeziora naturalne/sztuczne zbiorniki zaporowe (Wr i Wj). Pierwszego dnia - runda 59(Wr)PP - obiekt badań…

 Akredytacja PCA - AB 300

 

Informujemy, że na podstawie wyników oceny Polskiego Centrum Akredytacji, która odbyła się w dniach 25-26.02 i 02-06.03.2026 r. oraz na podstawie podjętej decyzji PCA – akredytacja nr AB 300 jest utrzymana w dotychczasowym zakresie akredytacji z uwzględnieniem…
Więcej aktualności