Nanostruktury dla precyzyjnej metrologii SPM
9.06.2026 r. w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar w Kielcach odbyła się konferencja „Nanostruktury dla precyzyjnej metrologii SPM”, realizowana w ramach programu Polska Metrologia II.
Podczas spotkania Katarzyna Więcek, Kierownik Centrum LABTEST Centralnego Laboratorium Pomiarowo-Badawczego Sp. z o.o. wygłosiła referat, pt. „Certyfikacja materiałów odniesienia”.
Dziękujemy organizatorom konferencji za zaproszenie do udziału w wydarzeniu. Konferencja była dla nas świetną okazją do wymiany wiedzy i inspiracji.